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申请/专利权人:睿创微电子(烟台)有限公司
摘要:本申请涉及封装领域,公开了一种真空封装器件及其封装方法,包括:吸气剂层、互联层、吸气剂基底、MEMS结构、封装结构、具有贯穿厚度的通孔的器件晶圆;封装结构与器件晶圆的第一表面连接,并与器件晶圆形成第一腔体;MEMS结构位于器件晶圆的第一表面,且位于第一腔体中;互联层连接吸气剂基底的第一表面和器件晶圆的第二表面,在吸气剂基底和器件晶圆之间形成第二腔体;吸气剂层位于第二腔体中,且第二腔体中存在气体流动的空间;通孔连通第一腔体和第二腔体。吸气剂位于第二腔体中,可以避免MEMS结构的制备工艺对吸气剂造成影响,可以充分延长干法刻蚀时间使得牺牲层去除干净,同时还能保证吸气剂性能,提升器件的良率和使用寿命。
主权项:1.一种真空封装器件,其特征在于,包括:吸气剂层(1)、互联层(2)、吸气剂基底(3)、MEMS结构(4)、封装结构(5)、具有贯穿厚度的通孔(6)的器件晶圆(7);所述封装结构(5)与所述器件晶圆(7)的第一表面连接,并与所述器件晶圆(7)形成第一腔体;所述MEMS结构(4)位于所述器件晶圆(7)的第一表面,且位于所述第一腔体中;所述互联层(2)连接所述吸气剂基底(3)的第一表面和所述器件晶圆(7)的第二表面,在所述吸气剂基底(3)和所述器件晶圆(7)之间形成第二腔体;所述吸气剂层(1)位于所述第二腔体中,且所述第二腔体中存在气体流动的空间;所述通孔(6)连通所述第一腔体和所述第二腔体。
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