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申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
摘要：本发明提供基于器件属性概率分布的器件选择方法、装置及存储介质，涉及一种基于器件属性概率分布的器件选择方法，包括：给定芯片区域，获取给定芯片区域内的器件列表；在器件列表内抽取样本，依据抽取的样本在器件列表出现的概率确定是否接受抽取的样本作为待测器件，重复抽取样本直至获得足够数量的待测器件，完成待测器件的选择。本申请从完整的器件列表（大数据量）中重复抽取足够数量的待测器件样本，待测器件样本和完整器件列表服从相同的多维联合概率分布，能充分体现完整器件列表的原始统计特性，更好地满足器件选择过程的需求。
主权项：1.一种基于器件属性概率分布的器件选择方法，其特征在于，包括：给定芯片区域，获取所述给定芯片区域内的器件列表；其中，所述器件列表包括多个器件，以及所述器件的多维度属性信息；在所述器件列表内抽取样本，依据所述抽取的样本在所述器件列表出现的概率确定是否接受所述抽取的样本作为待测器件，重复抽取样本直至获得足够数量的待测器件，完成待测器件的选择。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 基于器件属性概率分布的器件选择方法、装置及存储介质
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