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MCU双线调试电路及MCU双线调试方法 

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申请/专利权人:佛山巨晟微电子有限公司

摘要:本发明公开了一种MCU双线调试电路及MCU双线调试方法,MCU双线调试电路包括通信协议处理模块和事件处理模块;其中,通信协议处理模块用于按照通信协议与片外的调试器进行信息交互;事件处理模块与通信协议处理模块电性连接,事件处理模块用于根据接收到的调试指令执行相应的动作,包括控制MCU的CPU、访问MCU内部的SRAM、访问MCU内部的FLASH中的至少一种,并将内部数据通过通信协议处理模块传输至调试器。根据本发明的MCU双线调试电路,通信协议处理模块提供了高可靠性的通信交互方式,且只使用两个IO接口即可完成通信;事件处理模块提供了丰富的调试功能,方便软件开发人员进行程序调试。

主权项:1.一种MCU双线调试电路,其特征在于,包括依次电性连接的通信协议处理模块和事件处理模块;所述通信协议处理模块用于按照通信协议与片外的调试器进行信息交互;所述事件处理模块用于根据接收到的调试指令执行相应的动作,包括但不限于控制MCU的CPU、访问所述MCU内部的SRAM、访问所述MCU内部的FALSH,并将获取的内部数据通过所述通信协议处理模块传输至所述调试器;其中,所述通信协议处理模块包括:电平侦测电路,通过所述MCU的两个IO接口与所述调试器电性连接,其中一个所述IO接口用于传输时钟信号,另一个所述IO接口用于传输调试指令,所述电平侦测电路用于根据所述时钟信号检测所述调试指令的电平状态;移位寄存器,与所述电平侦测电路电性连接,所述移位寄存器用于对所述调试指令进行串并转换;电平状态计数器,与所述电平侦测电路电性连接,所述电平状态计数器用于对所述调试指令保持高低电平状态进行计数;调试指令判断电路,分别与所述移位寄存器和所述电平状态计数器电性连接,所述调试指令判断电路用于判断已完成串并转换的所述调试指令是否符合预设的指令码;通信模式状态机,与所述调试指令判断电路电性连接,当所述调试指令符合预设的指令码时,所述通信模式状态机根据相应的所述调试指令进入相应的状态;调试指令发送器,与所述通信模式状态机电性连接,在所述通信模式状态机进入相应的状态后,向所述事件处理模块发送所述调试指令;数据缓存器,用于缓存所述事件处理模块所发送的所述内部数据;通讯编码器,与所述数据缓存器电性连接,所述通讯编码器用于对所述内部数据进行编码,并发送至所述调试器。

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