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封装结构及其成型方法 

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申请/专利权人:江苏长电科技股份有限公司

摘要:本发明揭示了一种封装结构及其成型方法,封装结构包括基板、芯片、第一塑封层及支撑块,基板包括相对设置的第一表面及第二表面;芯片位于第一表面;第一塑封层位于第一表面并包封芯片;支撑块位于第二表面;其中,于基板的厚度方向上,芯片及支撑块之间具有重叠区域,且芯片的热膨胀系数与支撑块的热膨胀系数相等。本发明的支撑块的热膨胀系数与芯片的热膨胀系数相等,且支撑块与芯片位于基板的两侧,如此,支撑块可抵消芯片或芯片间受到的部分应力,以避免出现由于热收缩不同而导致的诸如翘曲或扭曲的问题,且芯片及支撑块之间具有重叠区域,可提高支撑块对芯片受到的应力的抵消作用,即支撑块可达到平衡翘曲的作用。

主权项:1.一种封装结构,其特征在于,包括:基板,包括相对设置的第一表面及第二表面;芯片,位于所述第一表面;第一塑封层,位于所述第一表面并包封所述芯片;支撑块,位于所述第二表面;其中,于所述基板的厚度方向上,所述芯片及所述支撑块之间具有重叠区域,且所述芯片的热膨胀系数与所述支撑块的热膨胀系数相等,所述封装结构被配置为:在成型过程中通过切割形成多个独立的封装结构。

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权利要求:

百度查询: 江苏长电科技股份有限公司 封装结构及其成型方法

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