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一种测量晶向角度偏差值的方法及装置 

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申请/专利权人:丹东新东方晶体仪器有限公司

摘要:本发明涉及晶体晶向测量技术领域,具体涉及一种测量晶向角度偏差值的方法及装置,所述方法应用于X光定向仪,所述X光定向仪包括弧形导轨、X光发射器和X光接收器,所述X光发射器和X光接收器能在所述弧形导轨上滑动,所述方法包括步骤:S100,利用已知晶体标定所述弧形导轨的测量半径;S200,测得所述X光发射器在所述弧形导轨上从所述已知晶体的理论衍射角位置至被测晶体的测量衍射角位置所走过的弧长;S300,计算所述弧长与所述标定的测量半径的商,得到所述被测晶体的晶向角度偏差值。

主权项:1.一种测量晶向角度偏差值的方法,应用于X光定向仪,所述X光定向仪包括弧形导轨、X光发射器和X光接收器,所述X光发射器和X光接收器能在所述弧形导轨上滑动,其特征在于,所述方法包括步骤:S100,利用已知晶体标定所述弧形导轨的测量半径;S200,测得所述X光发射器在所述弧形导轨上从所述已知晶体的理论衍射角位置至被测晶体的测量衍射角位置所走过的弧长;S300,计算所述弧长与所述标定的测量半径的商,得到所述被测晶体的晶向角度偏差值。

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