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申请/专利权人：株式会社爱德万测试
摘要：本发明提供一种能够实现运转率的提高和占有空间的缩小的电子部件处理装置。对DUT200进行处理的电子部件处理装置10具备分别安装与测试器7连接的测试头5A～5D的多个接触单元60A～60D，各个接触单元60A～60D能够与其他接触单元60A～60D独立地调整DUT200的温度，并且能够向设置于测试头5A～5D的插座6按压DUT200，电子部件处理装置10构成为能够增设或减设接触单元60A～60D。
主权项：1.一种电子部件处理装置，是对被试验电子部件即DUT进行处理的电子部件处理装置，其中，所述电子部件处理装置具备多个接触单元，多个所述接触单元分别安装与单一测试器连接的多个测试头，各个所述接触单元能够与其他所述接触单元独立地调整所述DUT的温度，并且能够向设置于所述测试头的插座按压所述DUT。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社爱德万测试 电子部件处理装置及电子部件试验装置
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