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申请/专利权人：广东利扬芯片测试股份有限公司

摘要：本发明揭示了一种结合外围MCU的无线充电芯片测试系统，所述测试系统改变烧录时的通讯主机，将对所述无线充电芯片的烧录由测试机执行转为由无线充电芯片的外围MCU芯片去执行，其中，MCU芯片与所述无线充电芯片为所在同一板卡内部层级之间的通讯。本发明能够改善无线充电芯片测试速率和稳定性，并能够适应无线充电芯片的各种测试。

主权项：1.一种结合外围MCU的无线充电芯片测试系统，其特征在于：所述测试系统改变烧录时的通讯主机，将对所述无线充电芯片的烧录由测试机执行转为由无线充电芯片的外围MCU去执行，其中，MCU与所述无线充电芯片为所在同一测试板卡内部层级之间的通讯；在测试机程序定义MCU的烧录指令和烧录状态引脚；在测试机程序中编写测试机对MCU管脚进行发送烧录指令、检测烧录状态的语句；所述测试板卡与机械手或分选机通过冶具连接；测试系统结合外围MCU烧录的无线充电芯片测试，改变烧录时的通讯主机，将烧录给到外围电路的MCU芯片去执行，从测试机与被测芯片通过4条cable连接转变成板卡层级之间的通讯；其中，所述测试机通过4条calbe连接测试板卡、并经由测试板卡上的第一至第四牛角插座4个牛角插座连接至被测芯片，所述测试板卡上的被测芯片与测试板卡上的所述MCU建立通讯，并且：所述第一至第四牛角插座均与所述测试机为双向通讯；被测无线充电芯片IC作为被测芯片设置于测试板卡上的Socket，且：第一至第四牛角插座4个牛角插座与所述Socket为单向通讯，通讯方向为第一至第四牛角插座4个牛角插座向所述Socket；所述MCU与第一牛角插座之间双向传输烧录状态的信息；所述MCU与第四牛角插座之间传输烧录指令的信息，且所述第四牛角插座向所述MCU单向传输烧录指令；通过上述同一板卡，该板卡充当了测试板卡，其解决芯片测试过程中烧录不稳定、速率低、易出错问题，有效提高了测试质量；其中，所述MCU连接所述无线充电芯片的外围电路；MCU与待测无线充电芯片的通讯引脚具有电气连接；所述MCU为多种通讯协议的MCU芯片；采用程序烧录器将烧录程序通过板卡预留烧录接口将程序烧录进MCU内；在规划测试板卡时，对被测芯片的外围电路连接一颗MCU，将MCU与被测芯片双方通讯引脚进行电气连接，并且将被测芯片以及MCU通讯协议所需要的烧录引脚预留做烧录口，在芯片测试前采用程序烧录器将所需测试程序通过板卡预留烧录口烧录到MCU的存储器内；当需要对被测芯片进行烧录时，由测试机对MCU的特定管脚发送烧录指令，MCU便会自动与待测芯片建立通讯协议并执行烧录动作将MCU内部存储器里的程序数据烧录到芯片中，之后再通过测试机检测MCU预定义的管脚状态来检测烧录是否完成；通过测试机结合外围MCU进行烧录能够分别发挥到测试机和MCU各自的优势，避免了通过pattern烧录带来的问题；所述测试系统：改变了烧录程序时的主机，并且去除了cable连接阻抗带来的速率低、不稳定问题；结合外置MCU将数据传输给到MCU执行，MCU内置了通讯协议，且由cable连接更改为直接电气连接，去除了输入输出阻抗，在充当烧录主机进行烧录时，与被测芯片通讯能够达到更快的速率及更加稳定的效果；通过测试机结合外围MCU去共同执行烧录操作，能够简化测试程序，让测试程序更加方便维护与更新，若需要修改烧录数据仅需要重新烧录MCU即可，无需再去修改测试机复杂的pattern，规避了可能带来的过失误差；通过结合外围MCU烧录的无线充电芯片测试方案能够降低测试时间，提高稳定性，从而使芯片测试的产出更高效，同时简化了测试程序也能够缩短开发周期，提升效率。

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