买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：中国人民解放军国防科技大学

摘要：针对现有技术中大口径长焦距光学成像系统的成像质量测量所存在的测量误差较大、操作步骤复杂、效费比低的问题，本发明提出了一种大口径光学成像系统成像质量测量装置及测量方法，通过搭建远场距离等效光路，在近距离为待测大口径光学成像系统提供等效标定光栅线对板，能够实现在待测大口径光学成像系统的远场位置距离处放置线对标定板的距离等效成像模拟，进而根据物像共轭关系计算大口径长焦距光学成像系统的MTF曲线和PSNR，实现大口径光学成像系统成像质量的测量。

主权项：1.大口径光学成像系统成像质量测量方法，其特征在于，包括：（S1）确定待测大口径光学成像系统，搭建大口径光学成像系统成像质量测量装置，包括激光器、DMD空间光调制器、准直透镜、分光镜、聚焦透镜、扩束与投射组件、待测大口径光学成像系统以及监测相机；所述激光器输出的激光光束投射到DMD空间光调制器上，经DMD空间光调制器反射后由准直透镜准直输出至分光镜，分光镜的反射光路上设置有监测相机，分光镜的透射光路上依次设有聚焦透镜、扩束与投射组件以及待测大口径光学成像系统；（S2）设置当前测量参数；在DMD空间光调制器上加载当前的线对标定板图像；根据当前设置的待模拟的线对标定板等效距离，调整大口径光学成像系统成像质量测量装置中聚焦透镜的位置；（S3）启动大口径光学成像系统成像质量测量装置，开始测量；利用监测相机获取当前理想线对标定板目标图像，待测大口径光学成像系统获取当前待评价图像；（S4）获取当前评价结果；基于监测相机获取的当前理想线对标定板目标图像和待测大口径光学成像系统获取的当前待评价图像，计算当前待测大口径光学成像系统的MTF以及PSNR；当前待测大口径光学成像系统的MTF计算公式如下： 其中，M表示线对标定板调制度，表示待测大口径光学成像系统对线对标定板所成图像的调制度，M和的计算公式如下： 其中，和分别为当前理想线对标定板目标图像和当前待评价图像的像素最大值，和分别为当前理想线对标定板目标图像和当前待评价图像的像素最小值；当前待测大口径光学成像系统获取的图像越清晰，对应的PSNR值也越大，其中PSNR的计算公式如下： 其中，MAX表示当前待测大口径光学成像系统获取的图像像素点的最大数值，对于灰度图像MAX为255，MSE定义为： 其中，MSE表示均方误差，和分别表示当前理想线对标定板目标图像和当前待评价图像中坐标位置为处的像素值，m、n分别为图像以像素为单位的长和宽；（S5）更新当前测量参数，返回（S2），直至获得所需不同测量参数下大口径光学成像系统的成像质量测量结果。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 中国人民解放军国防科技大学 大口径光学成像系统成像质量测量装置及测量方法