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申请/专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院

摘要：本发明实施例提供一种超短脉冲中子检测的探测装置及方法，属于中子探测技术领域。所述探测装置包括：至少四组气体探测器和处理模块，其中至少四组气体探测器围成环形，每组气体探测器的探测口向超短脉冲中子发生器的所在的内侧设置；处理模块与气体探测器连接，用于根据每组气体探测器的探测数据确定中子通量。至少四组气体探测器环绕于超短脉冲中子发生器，实现对超短脉冲中子发生器接近4π立体角的覆盖，实现在空间维度上的测量，在处理模块测量反冲原子核的能量的时候就能够反推出中子的能量，测量入射中子成一个角度内的散射原子的能量，从而推算出入射的中子束能量。

主权项：1.一种超短脉冲中子检测的探测装置，其特征在于，所述探测装置包括：至少四组气体探测器，至少四组所述气体探测器围成环形，且每组所述气体探测器的探测口向超短脉冲中子发生器所在的内侧设置；处理模块，与所述气体探测器连接，用于根据每组所述气体探测器的探测数据确定中子通量；根据公式（1）计算所述中子通量， ，（1）其中，为至少四组所述气体探测器测量得到的探测数据，为至少四组所述气体探测器的综合效率，为实际测量的中子通量；所述综合效率通过以下步骤获得：获取至少四组所述气体探测器的探测数据；获取预设的中子源的标准中子通量；根据所述探测数据和标准中子通量计算实际综合探测效率；判断所述实际综合探测效率和理论综合探测效率的偏差是否大于预设的偏差阈值；在所述偏差小于或等于所述偏差阈值的情况下，取偏差最小的所述实际综合探测效率作为所述综合探测效率；所述综合效率还通过以下步骤获得：在所述偏差大于所述偏差阈值的情况下，返回执行获取预设的中子源的标准中子通量的步骤；根据所述探测数据和标准中子通量计算实际综合探测效率，包括：根据公式（2）和公式（3）计算所述实际综合探测效率， ，（2） ，（3）其中，为探测装置在位置上的实际综合探测效率，为入射到探测装置的中子数，为中子源到气体探测器的距离，为气体探测器灵敏区为正方形的边长，为工作气体的密度，为工作气体的摩尔质量，为反应截面，为阿伏伽德罗常量，为探测装置在位置上的立体角，为气体探测器灵敏区的厚度；判断所述实际综合探测效率和理论综合探测效率的偏差是否大于预设的偏差阈值，包括：根据公式（4）和公式（5）判断所述实际综合探测效率和理论综合探测效率的偏差是否大于预设的偏差阈值， ，（4） ，（5）其中，为气体探测器每面的像素点，为实际中子产额，为偏差阈值，为理论综合探测效率。

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