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申请/专利权人:博最科技(苏州)有限公司
摘要:本发明公开了基于高压MCU的高压采样和AFE采样串联式连接系统,涉及高压采样技术领域,包括低压MCU模块、数字隔离模块、高压采样MCU模块、变压器隔离模块、AFE采样MCU模块,且所述低压MCU模块和所述数字隔离模块通过SPI通讯接口相连,所述数字隔离模块和所述高压采样MCU模块通过SPI通讯接口相连;本发明通过设置低压MCU模块、数字隔离模块、高压采样MCU模块、变压器隔离模块、AFE采样MCU模块,以及通过设计各个模块之间的电路连接方式、通讯方式和通讯逻辑,实现了系统安全、可靠、高效的高压信号和模拟信号采样功能,达到了简化高压采样和AFE采样与低压MCU之间的通讯方式。
主权项:1.基于高压MCU的高压采样和AFE采样串联式连接系统,其特征在于,包括低压MCU模块、数字隔离模块、高压采样MCU模块、变压器隔离模块、AFE采样MCU模块,且所述低压MCU模块和所述数字隔离模块通过SPI通讯接口相连,所述数字隔离模块和所述高压采样MCU模块通过SPI通讯接口相连,所述高压采样MCU模块和所述变压器隔离模块通过菊花链通讯正链连接,所述变压器隔离模块和所述AFE采样MCU模块通过菊花链通讯反链连接;所述低压MCU模块为低压测MCU,提供SPI通讯将高压采样数据和电芯采样数据解析上传至整车;所述数字隔离模块是通过数字隔离的方式将高压SPI与低压SPI进行通讯,隔离耐压为DC5000V;所述高压采样MCU模块是采集测的电流信号和电流和高压电压采集,和采集绝缘检测值,接收解析AFE采样模块的数据,将以上数据通过SPI的通讯方式发送至低压测MCU,且所述高压采样MCU模块包括绝缘检测、高压检测、电流传感器温度采集、母线电流检测1和母线电流检测2;所述变压器隔离模块是采用双路菊花链通讯的方式进行隔离通讯;所述AFE采样MCU模块是采集电芯电压和模组温度,和被动均衡控制,将电芯数据发送至高压MCU解析并上传,且所述AFE采样MCU模块包括均衡温度检测、均衡控制、单体温度检测和单体电芯电压检测。
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