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申请/专利权人：无锡市宜欣科技有限公司
摘要：本实用新型涉及一种芯片残留检测装置及转塔式分选机。芯片残留检测装置包括测试插座、对射光纤及光纤传感器；测试插座上设置有用于容纳待测芯片的容置空间，测试插座的侧壁上开设有贯穿测试插座并通过容置空间的通孔；对射光纤包括发射端与接收端，发射端与接收端分别布置在通孔的两端，发射端与接收端分别通过光纤线与光纤传感器相连；接收端用于接收通过通孔的发射端发射的光线；光纤传感器用于比较接收端接收的光线的通光量与设定值，判断容置空间内是否残留待测芯片。通过在测试插座的侧壁上开设水平方向的通孔，通过对射光纤通过通孔的光线来检测测试插座内是否残留芯片，采用从水平方向来检测，提高了检测精度。
主权项：1.一种芯片残留检测装置，其特征在于，所述芯片残留检测装置包括测试插座、对射光纤及光纤传感器；其中：所述测试插座上设置有用于容纳待测芯片的容置空间，所述测试插座的侧壁上开设有贯穿所述测试插座并通过所述容置空间的通孔；所述对射光纤包括发射端与接收端，所述发射端与所述接收端分别布置在所述通孔的两端，所述发射端与所述接收端分别通过光纤线与所述光纤传感器相连；所述接收端用于接收通过所述通孔的所述发射端发射的光线；所述光纤传感器用于比较所述接收端接收的光线的通光量与设定值，判断所述容置空间内是否残留待测芯片。
全文数据：
权利要求：
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