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申请/专利权人：长春市艾必利务科技有限公司
摘要：本发明公开了一种宽光谱多轴一致性检测装置及方法，涉及光谱分析技术领域，旨在解决当前宽光谱多轴一致性检测装置往往难以对工件表面压痕在多轴条件下的一致性进行准确检测，检测所需的时间较长，无法快速完成对工件表面状态检测的技术问题，包括，外壳，用于制造独立的宽光谱检测空间，设于外壳内底部的多轴定位模块，用于确保在不同条件下对光谱数据采集时准确地定位和对准，确保工件位置的一致性，滑动设于多轴定位模块上的工件承托模块，用于承托光谱数据采集过程中的工件。本发明通过深度学习技术，训练可不断丰富的一致性检测模型，采用对比的方式，大大降低了检测所需的时间，可快速的完成对工件表面状态的检测。
主权项：1.一种宽光谱多轴一致性检测装置，其特征在于，包括；外壳，用于制造独立的宽光谱检测空间；设于外壳内底部的多轴定位模块3，用于确保在不同条件下对光谱数据采集时准确地定位和对准，确保工件位置的一致性；滑动设于多轴定位模块3上的工件承托模块4，用于承托光谱数据采集过程中的工件，以确保在不同条件下采集的光谱数据的一致性；滑动安装于多轴定位模块3上一侧的光路切换机构5，用于校准光学组件，以确保它们的性能和读数的准确性；与光路切换机构5固定连接的宽光谱光源6，用于提供宽光谱的光源；两个与光路切换机构5固定连接的长波红外探测器7，且两个所述长波红外探测器7对称分布于宽光谱光源6的两侧，用于接收和测量工件反射或透射的光谱数据；设于外壳内的控制系统，用于对光谱数据进行分析、处理、通信和输出。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 长春市艾必利务科技有限公司 一种宽光谱多轴一致性检测装置及方法
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