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申请/专利权人：长鑫存储技术有限公司
摘要：本公开提供一种验证方法及设备，涉及半导体技术领域，该方法包括：获取测试用例在对存储芯片执行测试的过程中所形成的第一目标命令序列，第一目标命令序列中包括顺序排列的多个目标命令；获取测试用例在对存储芯片执行测试的过程中所形成的第一目标命令序列，第一目标命令序列中包括顺序排列的多个目标命令；根据出现情况参数确定测试用例的覆盖程度参数。相较于人工分析测试用例以确定其优劣，本公开实施例通过出现情况参数确定测试用例优劣的方案具有更低的人工成本，并且更加客观，不会因为人为问题而导致分析结果错误，准确度更高。
主权项：1.一种验证方法，其特征在于，所述方法包括：获取测试用例在对存储芯片执行测试的过程中所形成的第一目标命令序列，所述第一目标命令序列中包括顺序排列的多个目标命令；确定预设数量的第一参考命令序列在所述第一目标命令序列中的出现情况参数，所述第一参考命令序列中包括顺序排列的多个参考命令；根据所述出现情况参数确定所述测试用例的覆盖程度参数。
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百度查询： 长鑫存储技术有限公司 验证方法及设备
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