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申请/专利权人：罗伯特·博世有限公司
摘要：本发明涉及一种用于探测光学元件4的污染的探测设备，该探测设备具有耦合设备5并且具有探测器8，该耦合设备包括用于将光源2的至少一个波长的光10耦合输入到光学元件4中的第一耦合元件5a，6和用于将耦合输入的光从光学元件4中耦合输出的第二耦合元件5b，7，其中，耦合元件6：5a；7：5b中的至少一个包括全息图，该探测器用于检测耦合输出的光。
主权项：1.一种传感器设备（1），所述传感器设备用于借助至少一个波长的光来探测对象，所述传感器设备包括：对象光源（2），所述对象光源用于将至少一个波长的光发射到对象空间中；对象探测器（20），所述对象探测器用于接收由对象反射的光；光学元件（4），所述光学元件构造为所述传感器设备（1）的覆盖装置；和探测设备（8‘），所述探测设备用于探测所述光学元件（4）的污染，所述探测设备具有：耦合设备（5），所述耦合设备包括第一耦合元件（6）和第二耦合元件（7），所述第一耦合元件用于将所述对象光源（2）的至少一个波长的光（10）耦合输入到所述光学元件（4）中，所述第二耦合元件用于将光从所述光学元件（4）中耦合输出，其中，所述第一耦合元件和第二耦合元件中的至少一个耦合元件包括全息图，其中，所述第二耦合元件（7）布置在所述光学元件（4）上的以下区域中：所述区域不施加有所述对象光源（2）的光（10）；探测器（8），所述探测器用于检测所述耦合输出的光，其中，所述耦合设备（5）和所述传感器设备（1）的所述光学元件（4）以共同作用的方式构造用于光的耦合输入和耦合输出，其中，所述传感器设备（1）的对象光源（2）具有有效视场区域（14）和边际视场区域（13），并且所述耦合设备（5）的第一耦合元件（6）布置在所述边际视场区域（13）中，所述有效视场区域（14）用于探测对象，所述边际视场区域（13）用于污染探测，其中，根据所述全息图在所述光学元件（4）上的位置匹配所述全息图的效率，使得所述传感器设备（1）的基本功能不受限制。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 罗伯特·博世有限公司 用于探测污染的探测设备
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