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申请/专利权人：北京大通高科电子科技有限公司
摘要：本发明属于探井路径校准分析技术领域，具体公开提供的一种高精度陀螺仪校准校验监测分析系统，该系统包括：通过对陀螺仪钻井过程中的姿态数据进行分析，确定钻井偏离位置；通过对偏离孔径位置的各侧钻方向所属效率指标进行预测模拟，筛选出最优方向路径，进而执行开窗侧钻；通过分析偏离孔径位置对应已钻进路段的井壁坍塌状态、泥浆性能变化状态，反映当前钻进数据对井壁的稳定性影响，以确定钻井偏调数据；根据工艺偏差衡量度来确定钻具设备的故障程度，对钻具设备进行故障校准鉴定；从地质、环境、工艺层面对偏离原因进行鉴别和校准，进而对偏离位置的后续路径进行校准成效分析，鉴别当前钻井过程的校准方式合理情况。
主权项：1.一种高精度陀螺仪校准校验监测分析系统，其特征在于，该系统包括：井眼轨迹检测模块，用于通过随钻陀螺仪按预设的多段制井眼轨迹进行钻井操作，获取实际钻井路径，实时分析实际钻井路径偏离系数；孔径校准因素确定模块，用于定位偏离孔径位置，检测偏离孔径位置的地质相关参数、环境相关参数和工艺相关参数，分析偏离孔径位置的地质偏差衡量度、环境偏差衡量度和工艺偏差衡量度，确定钻井路径对应偏离孔径位置的偏离因素，包括地质因素、环境因素、工艺因素；地质层面校准分析模块，用于根据偏离孔径位置的地质相关参数，确定随钻陀螺仪的钻井偏调数据；环境层面校准分析模块，用于根据偏离孔径位置的环境相关参数，识别并补偿由环境变化引起的误差；钻具层面校准分析模块，用于根据偏离孔径位置的工艺相关参数，对钻具设备进行故障校准鉴定；孔径校准效果评价模块，用于对已钻井路径进行信息统计，评估当前偏离孔径位置的路径校准成效指标，统计钻井完成路径轨迹上各偏离孔径位置，进而评估探井路径的综合校准置信度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京大通高科电子科技有限公司 一种高精度陀螺仪校准校验监测分析系统
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