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一种铌酸锂单晶薄膜的制备工艺 

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申请/专利权人:安徽科瑞思创晶体材料有限责任公司

摘要:本发明涉及晶体合成技术领域,公开了一种铌酸锂单晶薄膜的制备工艺,包括以下步骤:S1、于切割模具表面开设容纳槽;S2、将铌酸锂单晶切割成薄片,然后将铌酸锂薄片置于切割模具的容纳槽中,填充缓冲材料,机械研磨减薄铌酸锂薄片;S3、衬底表面沉积SiO2层并抛光,将铌酸锂薄片与衬底键合,热处理形成共价连接;S4、溶剂溶解缓冲材料后移除切割模具,然后采用化学抛光的方式对铌酸锂薄片进一步减薄,得到所述铌酸锂单晶薄膜。本发明通过带容纳槽的切割模具固定铌酸锂单晶薄片,并在缝隙处填充缓冲材料,降低了铌酸锂单晶在机械研磨时的裂片风险,同时铌酸锂单晶薄片与切割模具为非永久固定,方便移除。

主权项:1.一种铌酸锂单晶薄膜的制备工艺,其特征在于,包括以下步骤:S1、通过研磨和蚀刻的方式于切割模具表面开设容纳槽,容纳槽的边缘呈斜坡状;S2、将铌酸锂单晶切割成厚度为200~400μm的薄片,然后将铌酸锂薄片置于切割模具的容纳槽中,然后在铌酸锂薄片和容纳槽之间的间隙填充缓冲材料,再通过机械研磨铌酸锂薄片使其减薄至100μm以下,最后抛光至表面粗糙度≤0.5nm;S3、将衬底表面抛光至粗糙度≤0.5nm,然后在衬底表面沉积SiO2层,再将SiO2层表面抛光至粗糙度≤0.5nm,最后将减薄后的铌酸锂薄片与衬底键合,并通过热处理使铌酸锂与SiO2层形成共价连接;S4、通过溶剂溶解缓冲材料,移除切割模具,然后采用化学抛光的方式对铌酸锂薄片进一步减薄至厚度80~200nm,得到所述铌酸锂单晶薄膜。

全文数据:

权利要求:

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