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申请/专利权人：深圳原子半导体科技有限公司
摘要：本实用新型公开了一种散热性芯片检测设备，涉及散热性芯片技术领域，具体包括设备台，还包括：检测组件，包括设置在设备台上的安装架，以及设置于安装架上的温度检测仪；放置台，设置有两个，并对称设置于所述设备台的顶部，所述放置台顶部中心处用于放置待检测的散热性芯片；驱动组件，设置有两个，并与两个放置台一一对应，用于驱动所述放置台朝设备台顶部中心处趋近或远离。本实用新型通过设置的两个驱动组件相互配合，使得两个放置台能够依次有序地朝放置台顶部中心处趋近或远离，进而利用一个温度检测仪就能够进行检测，整体检测有条不紊，使得整个流程更加流畅快捷，使用更方便，提高了工作效率。
主权项：1.一种散热性芯片检测设备，包括设备台1，其特征在于，还包括：检测组件2，包括设置在设备台1上的安装架201，以及设置于安装架201上的温度检测仪202；放置台3，设置有两个，并对称设置于所述设备台1的顶部，所述放置台3顶部中心处用于放置待检测的散热性芯片；驱动组件4，设置有两个，并与两个放置台3一一对应，用于驱动所述放置台3朝设备台1顶部中心处趋近或远离；导向组件5，设置有两个，并与两个放置台3一一对应；夹持组件6，设置于所述放置台3的顶部，用于对所述放置台3上的散热性芯片进行夹持。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳原子半导体科技有限公司 一种散热性芯片检测设备
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