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申请/专利权人：京东方科技集团股份有限公司
摘要：本发明提供一种测试装置和测试方法。该测试装置包括控制模块、旋转结构和平移结构，旋转结构和平移结构与控制模块分别电连接；旋转结构用于固定待测显示面板；平移结构用于固定光学测试件；控制模块还与待测显示面板和光学测试件分别电连接；控制模块被配置为控制旋转结构在水平面上和竖直面上分别旋转设定角度，还被配置为控制平移结构在平面内移动；水平面与竖直面垂直；控制模块还被配置为向待测显示面板提供显示图像信号和接收光学测试件回传的测试数据；控制模块还被配置为对测试数据进行处理，并根据处理结果判定待测显示面板是否合格。该测试装置测试占地小，且能提高光学测试效率。
主权项：1.一种测试装置，其特征在于，包括控制模块、旋转结构和平移结构，所述旋转结构和所述平移结构与所述控制模块分别电连接；所述旋转结构用于固定待测显示面板；所述平移结构用于固定光学测试件；所述控制模块还与所述待测显示面板和所述光学测试件分别电连接；所述控制模块被配置为控制所述旋转结构在水平面上和竖直面上分别旋转设定角度，还被配置为控制所述平移结构在平面内移动；所述水平面与所述竖直面垂直；所述控制模块还被配置为向所述待测显示面板提供显示图像信号和接收所述光学测试件回传的测试数据；所述控制模块还被配置为对所述测试数据进行处理，并根据处理结果判定所述待测显示面板是否合格。
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权利要求：
百度查询： 京东方科技集团股份有限公司 测试装置和测试方法
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