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基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法 

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申请/专利权人:武汉大学;南京南瑞继保电气有限公司;国家电网有限公司;国网冀北电力有限公司

摘要:本发明提出了一种基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法。本发明通过分析集电极‑发射极通态压降和IGBT疲劳老化的关系,利用最小二乘法建立初始老化模型,进而对噪声序列进行平稳性检验,进而建立基于GARCH模型的IGBT老化模型,评估IGBT老化状态,提高IGBT寿命预测的精度。本发明解决了IGBT具体生产工艺引起个体差异和实际工况带来的影响。根据功率循环加速老化试验建立集电极‑发射极通态压降VCE,on与功率循环次数的数学模型,可精确地得到单个IGBT模块的老化状态。

主权项:1.基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1:从数据集中提取集电极-发射极通态压降数据,并进行预处理,得到预处理后的VCE,on数据序列;步骤2:采用所述预处理后的VCE,on数据序列中周期T前的作为历史数据,建立回归模型作为初始老化模型,完成参数估计;步骤3:获得周期T前数据的残差序列;步骤4:对残差序列进行平稳性检验;若残差序列不平稳,则返回步骤2,需要对回归模型重新进行参数估计;若残差序列为平稳的,则进入步骤5;步骤5:进行GARCHp,q建模,重构IGBT模块的老化模型;步骤6:根据所述GARCH模型,预测周期T后的VCE,on数据,判断IGBT模块的老化状态;步骤7:预测IGBT模块的剩余使用寿命。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 武汉大学 南京南瑞继保电气有限公司 国家电网有限公司 国网冀北电力有限公司 基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法

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