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申请/专利权人：武汉大学;南京南瑞继保电气有限公司;国家电网有限公司;国网冀北电力有限公司
摘要：本发明提出了一种基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法。本发明通过分析集电极‑发射极通态压降和IGBT疲劳老化的关系，利用最小二乘法建立初始老化模型，进而对噪声序列进行平稳性检验，进而建立基于GARCH模型的IGBT老化模型，评估IGBT老化状态，提高IGBT寿命预测的精度。本发明解决了IGBT具体生产工艺引起个体差异和实际工况带来的影响。根据功率循环加速老化试验建立集电极‑发射极通态压降VCE，on与功率循环次数的数学模型，可精确地得到单个IGBT模块的老化状态。
主权项：1.基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1：从数据集中提取集电极－发射极通态压降数据，并进行预处理，得到预处理后的VCE,on数据序列；步骤2：采用所述预处理后的VCE,on数据序列中周期T前的作为历史数据，建立回归模型作为初始老化模型，完成参数估计；步骤3：获得周期T前数据的残差序列；步骤4：对残差序列进行平稳性检验；若残差序列不平稳，则返回步骤2，需要对回归模型重新进行参数估计；若残差序列为平稳的，则进入步骤5；步骤5：进行GARCHp，q建模，重构IGBT模块的老化模型；步骤6：根据所述GARCH模型，预测周期T后的VCE,on数据，判断IGBT模块的老化状态；步骤7：预测IGBT模块的剩余使用寿命。
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百度查询： 武汉大学 南京南瑞继保电气有限公司 国家电网有限公司 国网冀北电力有限公司 基于GARCH模型的IGBT剩余使用寿命预测方法
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