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一种超短激光脉冲时空特性测量装置和方法 

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申请/专利权人:中国科学院上海光学精密机械研究所

摘要:本发明公开了一种超短激光脉冲时空特性测量装置,包括窄带滤波片、电动旋转台、光电探测器、多功能复合模块、二维电动位移台、光谱仪和计算机;多功能复合模块包括调制物体、反射镜和光纤探头;本发明基于叠层扫描相干衍射成像技术,实现了空间分辨率高、光谱分辨率不受限制的短脉冲激光时空特性测量,具有结构紧凑、测量精度高等特点,解决了复杂分布脉冲的测量难题。

主权项:1.一种超短激光脉冲时空特性测量装置,其特征在于,包括:窄带滤波片2,放置在电动旋转台1上,用于选出进行后续测量的子光束,该子光束的波长与窄带滤波片2旋转的角度相关;电动旋转台1,用于旋转所述窄带滤波片2;光电探测器6,与所述窄带滤波片2同光轴;多功能复合模块4,固定在二维电动位移台3上,位于所述窄带滤波片2和光电探测器6之间,包括调制物体401、反射镜402和光纤探头403;二维电动位移台3,用于控制多功能复合模块4进行X-Y方向二维移动,选择不同的功能区域;光谱仪5,用于对光束的波长进行测量;计算机7,分别与所述电动旋转台1、二维电动位移台3、光谱仪5和光电探测器6相连,用于控制所述电动旋转台1、二维电动位移台3,并对光谱仪5和光电探测器6记录存储光谱及衍射光斑,进行数据处理。计算机7通过控制所述二维电动位移台3,带动所述多功能复合模块4移动,使经所述窄带滤波片2过滤的子光束入射至所述调制物体401,经该调制物体401调制后,形成的衍射光斑,由所述光电探测器6接收并记录;或者,使经所述窄带滤波片2过滤的子光束经所述反射镜402反射后入射至所述光纤探头403,该光纤探头403通过光纤与光谱仪5相连。

全文数据:

权利要求:

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