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申请/专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
摘要：本发明公开了一种超短激光脉冲时空特性测量装置，包括窄带滤波片、电动旋转台、光电探测器、多功能复合模块、二维电动位移台、光谱仪和计算机；多功能复合模块包括调制物体、反射镜和光纤探头；本发明基于叠层扫描相干衍射成像技术，实现了空间分辨率高、光谱分辨率不受限制的短脉冲激光时空特性测量，具有结构紧凑、测量精度高等特点，解决了复杂分布脉冲的测量难题。
主权项：1.一种超短激光脉冲时空特性测量装置，其特征在于，包括：窄带滤波片2，放置在电动旋转台1上，用于选出进行后续测量的子光束，该子光束的波长与窄带滤波片2旋转的角度相关；电动旋转台1，用于旋转所述窄带滤波片2；光电探测器6，与所述窄带滤波片2同光轴；多功能复合模块4，固定在二维电动位移台3上，位于所述窄带滤波片2和光电探测器6之间，包括调制物体401、反射镜402和光纤探头403；二维电动位移台3，用于控制多功能复合模块4进行X-Y方向二维移动，选择不同的功能区域；光谱仪5，用于对光束的波长进行测量；计算机7，分别与所述电动旋转台1、二维电动位移台3、光谱仪5和光电探测器6相连，用于控制所述电动旋转台1、二维电动位移台3，并对光谱仪5和光电探测器6记录存储光谱及衍射光斑，进行数据处理。计算机7通过控制所述二维电动位移台3，带动所述多功能复合模块4移动，使经所述窄带滤波片2过滤的子光束入射至所述调制物体401，经该调制物体401调制后，形成的衍射光斑，由所述光电探测器6接收并记录；或者，使经所述窄带滤波片2过滤的子光束经所述反射镜402反射后入射至所述光纤探头403，该光纤探头403通过光纤与光谱仪5相连。
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权利要求：
百度查询： 中国科学院上海光学精密机械研究所 一种超短激光脉冲时空特性测量装置和方法
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