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申请/专利权人：株式会社日立高新技术
摘要：本发明提供一种自动分析装置，其排除气泡的影响来测定测定对象的散射光量并能够提高分析的精度以及可靠性。自动分析装置具备：光检测系统，其具备接受透射了测定对象132的透射光的透射光检测器42以及接受由测定对象132散射的散射光的散射光检测器43；波形取得部49，其取得来自透射光检测器42的第一扫描波形数据以及来自散射光检测器43的第二扫描波形数据；以及数据处理部48，其使用第一扫描波形数据以及第二扫描波形数据，确定测定对象132中的气泡的有无，以及在存在气泡的情况下确定第二扫描波形数据中的受到气泡的影响的区间。
主权项：1.一种自动分析装置，其特征在于，该自动分析装置具备：反应盘，其沿周向配置多个反应容器且能够间歇旋转；光检测系统，其包含光源和光度计，以使配置于所述反应盘的所述反应容器通过所述光源与所述光度计之间的方式进行配置；以及光度计数据处理部，所述光度计具备：透射光检测器，其接受来自所述光源的光透射了容纳在所述反应容器中的测定对象的透射光；以及散射光检测器，其接受来自所述光源的光由所述测定对象散射的散射光，所述光度计数据处理部具有：波形取得部，其取得通过所述反应盘旋转而对所述测定对象扫描来自所述光源的光而得到的、来自所述透射光检测器的第一扫描波形数据以及来自所述散射光检测器的第二扫描波形数据；以及数据处理部，其存储有所述透射光检测器检测的透射光量的透射光下限阈值、所述散射光检测器检测的散射光量的散射光上限阈值和散射光下限阈值，确定所述第一扫描波形数据中的透射光量为所述透射光下限阈值以下、或者所述第二扫描波形数据中的散射光量为所述散射光上限阈值以上的第一区间，确定所述第二扫描波形数据中的散射光量为所述散射光下限阈值以下的第二区间，将所述第一区间和所述第二区间确定为受到所述测定对象中的气泡的影响的区间，从所述第二扫描波形数据中去除由所述数据处理部确定的所述受到所述测定对象中的气泡的影响的区间的扫描波形数据，进行基于所述测定对象的散射光量的分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 株式会社日立高新技术 自动分析装置
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