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申请/专利权人：长春理工大学

摘要：本发明公开了一种周扫转台光轴调整装置及方法，涉及光电转台装调检测技术领域，周扫转台光轴调整装置包括：基础周扫转台部件，还包括轴系调整部件；所述轴系调整部件由基准反射镜A、基准反射镜B、三维调整架和自准直仪构成；所述基础周扫转台部件中的可替换轴系部件中的一个，选择性地可拆卸地附着于所述三维调整架上；其中，可替换轴系部件包括：轴系A和轴系B；在进行轴系调整时，所述自准直仪与所述可替换轴系部件通过所述基准反射镜A或基准反射镜B光路连接。本发明装置只用一台自准直仪及几个基准反射镜即可实现，具有设备简单、操作方便的特点。

主权项：1.一种周扫转台光轴调整装置，包括：基础周扫转台部件，其特征在于，还包括轴系调整部件；所述轴系调整部件由基准反射镜A（7）、基准反射镜B（8）、三维调整架（11）和自准直仪（12）构成；所述基础周扫转台部件中的可替换轴系部件中的一个，选择性地可拆卸地附着于所述三维调整架（11）上；其中，可替换轴系部件包括：轴系A（1）和轴系B（2）；在进行轴系调整时，所述自准直仪（12）与所述可替换轴系部件通过所述基准反射镜A（7）或基准反射镜B（8）光路连接;在进行轴系调整时，所述自准直仪（12）与所述可替换轴系部件通过所述基准反射镜A（7）或基准反射镜B（8）光路连接，具体地：所述自准直仪（12）与所述轴系A（1）通过基准反射镜A（7）光路连接；所述自准直仪（12）与所述轴系B（2）通过基准反射镜B（8）光路连接；所述周扫转台光轴调整装置，还包括：基准反射镜C（9）和基准反射镜D（10）；所述基准反射镜C（9）和自准直仪（12），构成用于检测出射光轴的出射光轴检测结构；在出射光轴检测结构工作时：所述基准反射镜C（9）与所述自准直仪（12）相对设置；所述轴系A（1）一端和所述轴系B（2）一端通过所述基础周扫转台部件中的镜座A（5）活动连接；所述轴系A（1）另一端与基准反射镜A（7）选择性地可拆卸连接；所述轴系B（2）另一端与基准反射镜B（8）选择性地可拆卸连接，或所述轴系B（2）另一端与所述基础周扫转台部件中的镜座B（6）选择性地可拆卸连接；当所述轴系A（1）另一端与基准反射镜A（7）连接时，位于基准反射镜C（9）与自准直仪（12）之间的轴系A（1），通过基准反射镜A（7）与所述自准直仪（12）光路连接；所述镜座A（5）与非基准反射镜A（3）活动连接；所述镜座B（6）与非基准反射镜B（4）活动连接；所述基准反射镜C（9）、所述基准反射镜D（10）以及自准直仪（12），构成用于检测光轴偏离理想轴系的装调误差结构；在进行光轴偏离理想轴系的装调误差检测时，出射光轴检测结构不变，所述镜座B（6）与基准反射镜D（10）选择性的可拆卸连接。

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