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申请/专利权人：中国汽车技术研究中心有限公司;中汽研软件测评(天津)有限公司
摘要：本发明公开了一种针对密码芯片的高空间精度电磁故障注入方法，涉及集成电路安全和电磁故障注入技术领域。针对目前的电磁故障注入技术在空间精度上存在不足，无法精确控制故障注入的位置，导致攻击效果受限的问题，本发明根据目标芯片的物理结构和集成电路特性，调整电磁探头的空间位置，包括X、Y、Z三个维度的精确定位以及与芯片表面的角度，使得电磁故障注入更加精确地作用于芯片的关键区域，从而提高了故障注入的针对性和效率；同时收集同一密钥在不同的输入明文下输出的错误密文，利用差分故障分析（DFA）破解密码芯片的密钥信息，有助于密码芯片设计者针对电磁故障注入，及时改善防护措施，增强芯片的安全性。
主权项：1.一种针对密码芯片的高空间精度电磁故障注入方法，其特征在于，包括如下步骤：将明文输入待测密码芯片，获得所述待测密码芯片输出的第一密文；选择所述第一密文中的目标bit位；确定可以使目标bit位的数值反转的敏感位置数据，所述敏感位置数据为电磁探头放置的三维坐标以及电磁探头放置时与所述待测密码芯片的水平角度；按照所述敏感位置数据设置电磁探头，向待测密码芯片发射电磁脉冲，获取所述待测密码芯片输出的第二密文，并监测所述目标bit位的数值；若所述目标bit位的数值发生反转，则进入下一步；若所述目标bit位的数值未发生反转，重新确定敏感位置数据；保存数据向量，所述数据向量包括第一密文、第二密文，并改变输入明文，选择下一目标bit位，重复上述全部操作，若已遍历所述第二密文中每一个bit位，则进入下一步；采用差分故障分析算法对保存的数据向量进行分析，破解待测密码芯片的密钥信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国汽车技术研究中心有限公司 中汽研软件测评(天津)有限公司 一种针对密码芯片的高空间精度电磁故障注入方法
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