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申请/专利权人：中国科学技术大学
摘要：本发明提供了一种用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统，包括：探测器和高速可见光相机；其中，所述探测器包括：探测器腔体；小孔，设于所述探测器腔体的第一端部；薄膜，设于所述小孔上；微通道板MCP，被置于所述探测器腔体内，并且面对所述小孔；荧光屏，被置于所述探测器腔体内，并且面对所述微通道板MCP；成像时，软X射线穿透所述小孔，透过所述薄膜，照射在所述微通道板MCP上，软X射线经过所述微通道板MCP后到达所述荧光屏上，所述荧光屏上的可见光射出所述探测器腔体，而后聚焦到所述高速可见光相机上。本发明提高了X射线探测成像的速度，并且可获得软X射线的辐射剖面和温度信息。
主权项：1.一种用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统，其特征在于，包括：探测器、光纤镜头组（12）和高速可见光相机（13）；其中，所述探测器包括：探测器腔体（10）；小孔（2），设于所述探测器腔体（10）的第一端部；薄膜（3），设于所述小孔（2）上；微通道板MCP（4），被置于所述探测器腔体（10）内，并且面对所述小孔（2）；荧光屏（5），被置于所述探测器腔体（10）内，并且面对所述微通道板MCP（4）；成像时，软X射线穿透所述小孔（2），透过所述薄膜（3），照射在所述微通道板MCP（4）上，软X射线经过所述微通道板MCP（4）后到达所述荧光屏（5）上，所述荧光屏（5）上的可见光射出所述探测器腔体（10），而后经由光纤镜头组（12）聚焦到所述高速可见光相机（13）上；其中，所述小孔（2）为两个，两个小孔（2）上的薄膜（3）的厚度不同，所述薄膜（3）为铍膜，以在高速可见光相机上看到两个图像，并基于温度与两个图像比值之间的对应关系，在获得软X射线的辐射剖面的同时，获得软X射线的辐射温度信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学技术大学 用于磁约束聚变装置中的双膜软X射线荧光高速成像系统
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