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申请/专利权人：安徽华东光电技术研究所有限公司
摘要：本发明公开了一种用于自由空间透射式太赫兹光谱测量的样品台，所述样品台包括：样品限位组件和用于对该样品限位组件进行支撑和升降调节的支撑组件；其中，所述样品限位组件内部用于夹持样品的间距可调，所述样品限位组件的中部贯穿设置有通孔，该通孔的直径可变。该样品台在使用时，克服现有技术中样品台在使用时，未能很好适配样品尺寸，缺少调整通光孔大小的结构，会导致存在漏光等现象影响测量结果，此外，普遍样品架在换取药材薄片样品时较为麻烦，大大增加了实验时间成本的问题。
主权项：1.一种用于自由空间透射式太赫兹光谱测量的样品台，其特征在于，所述样品台包括：样品限位组件和用于对该样品限位组件进行支撑和升降调节的支撑组件5；其中，所述样品限位组件内部用于夹持样品的间距可调，所述样品限位组件的中部贯穿设置有通孔，该通孔的直径可变。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 安徽华东光电技术研究所有限公司 一种用于自由空间透射式太赫兹光谱测量的样品台
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