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屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质 

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申请/专利权人:高视科技(苏州)股份有限公司

摘要:本申请公开了一种屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质。该方法包括:获取待测屏幕图像,并对待测屏幕图像进行预处理,得到目标检测图像;对目标检测图像进行分块处理,得到多个子图像块;分别将每一子图像块展开为行向量,得到多个初始行向量;基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充,得到多个扩展行向量;基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图;对初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作,得到目标响应图;基于目标响应图进行缺陷分割,得到缺陷区域位置。利用本申请的技术方案,能够动态调整缺陷权重范围,引入更广的邻域像素来计算缺陷响应值,提升缺陷的检出精度。

主权项:1.一种屏幕缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取待测屏幕图像,并对所述待测屏幕图像进行预处理,得到目标检测图像;对所述目标检测图像进行分块处理,得到多个子图像块;分别将每一子图像块展开为行向量,得到多个初始行向量;其中,所述分别将每一子图像块展开为行向量包括:若检测横向缺陷,则分别将每一子图像块按行进行S型方向展开;若检测竖向缺陷,则分别将每一子图像块按列进行S型方向展开;若检测斜向缺陷,则分别将每一子图像块旋转45°或135°后按行进行S型方向展开或按列进行S型方向展开;基于预设线性滤波核的滤波核长度对每一初始行向量进行邻域像素点填充,得到多个扩展行向量;基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图;其中,所述基于每一扩展行向量和每一扩展行向量分别对应的初始行向量确定初始响应图包括:通过所述预设线性滤波核分别对每一扩展行向量进行均值滤波处理,得到多个目标行向量;分别将每一目标行向量与每一目标行向量分别对应的初始行向量进行作差,得到多个响应行向量,作差前需要先将每一目标行向量中填充的像素点去除;根据每一子图像块的图像块位置索引和每一响应行向量对应的子图像块分别将每一响应行向量进行S型展开的逆处理,从而将每一响应行向量转换为每一子图像块对应的响应图像块,并将每一子图像块对应的响应图像块放置在每一子图像块对应的图像块位置上;将每一子图像块对应的响应图像块进行拼接,得到初始响应图;对所述初始响应图进行闭操作和灰尘过滤操作,得到目标响应图;基于所述目标响应图进行缺陷分割,得到缺陷区域位置。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 高视科技(苏州)股份有限公司 屏幕缺陷检测方法、电子设备及存储介质

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