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申请/专利权人：中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)
摘要：本发明公开了一种电离层垂斜测一体化探测时序设置方法，包括如下步骤：步骤1，启动电离层垂斜测一体化设备，配置电离层常规探测和加密探测参数；步骤2，加载常规探测参数，启动电离层常规探测流程；步骤3，判断电离层是否发生扰动：若是，进入步骤4；若否，继续开展常规探测；步骤4，启动电离层加密探测流程；步骤5，判断电离层扰动是否结束。本发明所公开的设置方法，提供了一种电离层垂斜测一体化探测时序，可同步实现电离层垂测和斜测，具有探测信息多、探测时效性高、探测参数配置灵活等特点。
主权项：1.一种电离层垂斜测一体化探测时序设置方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，启动电离层垂斜测一体化设备，配置电离层常规探测和加密探测参数，包括探测周期、工作模式和信号频率；步骤2，加载常规探测参数，启动电离层常规探测流程；步骤3，收集并处理电离层垂、斜测数据，判断电离层是否发生扰动：若是，进入步骤4；若否，继续开展常规探测；步骤4，加载加密探测参数，启动电离层加密探测流程；步骤5，判断电离层扰动是否结束：若是，转入步骤2；若否继续开展加密探测。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所) 一种电离层垂斜测一体化探测时序设置方法
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