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申请/专利权人：北京航天拓扑高科技有限责任公司

摘要：本发明公开了定频触发采样下振动信号主分量频率及相位精确分析方法，通过分析得到原始振动波形主频率分量频率及相位的精确值，包括频谱分析仪和振动传感器，振动传感器设置在被测设备上，频谱分析仪设定采样频率fs,通过外触发方式采集振动传感器的振动而得到原始振动波形信号，所述分析方法包括得到主频率分量的频率、触发相位角精确值和得到主频率分量波峰幅值精确值：本方法可以对定频触发采样所得的振动数据进行主分量的频率、相位、幅度的精确分析，特别是对没有跟踪采样功能的仪器或未采用跟踪采样功能的仪器在进行振动分析时可以提高其主分量的频率分析精度，同时也可提高幅值分析的精度和各振动通道间相对相位的分析精度。

主权项：1.定频触发采样下振动信号主分量频率及相位精确分析方法，通过分析得到原始振动波形主频率分量频率及相位的精确值，包括频谱分析仪和振动传感器，振动传感器设置在被测设备上，频谱分析仪设定采样频率fs,通过外触发方式采集振动传感器的振动而得到原始振动波形信号，并对原始振动波形信号进行频谱分析得到并显示原始振动波形信号主频率分量的初始频率值f1、初始触发相位角α1和初始振动波形幅值A1，原始振动波形主频率分量表示为一个余弦信号波形X：X＝A*cos2π*f+α；其中：f为振动信号频率，α为触发相位角，A为原始波形波峰幅值；其特征在于，所述分析方法步骤包括：第一步：将初始频率值f1、初始触发相位角α1、初始振动波形峰幅值A1代入余弦信号波形X＝A*cos2π*f+α中，形成比对余弦信号波形X1：X1＝A1*cos2π*f1+α1；第二步：以与原始振动波形相同的采样频率fs生成对比余弦波形X1i：X1i＝A1*Cosf1*2*π*ifs+α1*π180其中：i为采样点，＝1、2、3、4……N；第三步：获取原始振动波形N个采样点的每一采样点的瞬时值数据记为原始数据Xoi，其中i＝1、2、3、4……N；第四步：基于被分析主频率分量的频率、触发相位角设定对比余弦波形的频率、相位角的变化步距：df、dα，频率从f1-k*df变换到f1+k*df,触发相位角从α1-k*dα变换到α1+k*dα，其中k的值从负的步距数-J变换到正的步距数J,循环计算对比余弦波形数据与原始波形数据对应相同采样点差值的绝对值之和，即: 当该值最小时则所对应的对比余弦的频率、触发相位角即为主频率分量的频率精确值和触发相位角精确值。

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