买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

申请/专利权人：山东华芯半导体有限公司

摘要：本发明公开一种闪存openblock特性的测试方法，属于闪存测试领域，本方法分阶段向block中写入数据，直至写满整个block，这样中间的每个阶段都是openblock。每个阶段选取一组对照的block写满数据，通过对比数据的错误位数，得到每个阶段openblock与closeblock的特性关系，根据这些特性可以进行对应的处理。本方法可以全面、快速的得到openblock在使用过程中存在的前后数据稳定性不一致的特性。通过本方法得到的数据结果可以很容易的得出openblock使用的间隔时间、open分组等信息，根据这些信息可以使处理openblock变得容易。

主权项：1.一种闪存openblock特性的测试方法，其特征在于：本方法分阶段向block中写入数据，直至写满整个block，这样中间的每个阶段都是openblock，每个阶段选取一组对照的block写满数据，通过对比数据的错误位数，得到每个阶段openblock与closeblock的特性关系；本方法的实施步骤为：S01）、选取NANDFlash中位置相近的N组blocks，编号1、2、3、…、n-1、n，n为大于或者等于2的正整数；S02）、根据block的字线数量M，计算出每次需要写入的字线数量m，m=MN-1；S03）、将编号为1的block组，从字线0开始写入m个字线，将编号为2的block组写满数据，等待一段时间T，将编号为1的block组从字线m开始写入m个字线，将编号为3的block组写满数据，等待一段时间T，将编号为1的block组从字线2m开始写入m个字线，将编号为4的block组写满数据，等待一段时间T，重复上述过程，完成N组block的写入后等待时间T；S04）、读取编号为1的block组的字线0到字线m获得错误位数分布情况P1[0,m，读取编号为2的block组的字线0到字线m获得错误位数分布情况P2[0,m，读取编号为1的block组的字线m到字线2m获得错误位数分布情况P1[m,2m，读取编号为3的block组的字线m到字线2m获得错误位数分布情况P3[m,2m，重复上述过程，直至读取编号为1的block组的字线n-2m到字线n-1m获得错误位数分布情况P1[n-2m,n-1m，读取编号为n的block组的字线n-2m到字线n-1m获得错误位数分布情况Pn[n-2m,n-1m；S05）、将获取到的P1[0,m与P2[0,m对比，P1[m,2m与P3[m,2m对比，依次向后，P1[n-2m,n-1m与Pn[n-2m,n-1m对比，得到openblock连续使用过程中，不同阶段的数据错误位数与closeblock的对比情况。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 山东华芯半导体有限公司 一种闪存open block特性的测试方法