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一种用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备 

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申请/专利权人:深圳市蔚来芯科技有限公司

摘要:本实用新型提供一种用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备,涉及芯片封装材料的检测技术领域,包括测试台,测试台的顶面设有转盘,转盘的顶面圆周阵列有测试座,测试座的顶面开设有测试腔,测试台的顶部设有电器盖,且电器盖为U形,且电器盖与测试座的表面相互配合,测试台的顶面栓接有下料支架,下料支架的顶面分别开设有储料槽和限位槽,下料支架的底部贯穿有下料口,限位槽内设有推动连接,增加多个测试座用于放置所需测试的芯片封装材料,并将多个测试座的位置进行旋转更换,实现了自动化测试,待测试完成后可立即对下一组芯片封装的材料进行测试,在对芯片封装材料测试时,可对空的测试座进行装料处理,提高了测试的效率。

主权项:1.一种用于芯片封装材料的导电导热性能检测设备,包括测试台1,其特征在于:所述测试台1的顶面设有转盘2,所述转盘2的顶面圆周阵列有测试座3,所述测试座3的顶面开设有测试腔4,所述测试台1的顶部设有电器盖5,且电器盖5为U形,且电器盖5与测试座3的表面相互配合,所述测试台1的顶面栓接有下料支架10,所述下料支架10的顶面分别开设有储料槽101和限位槽102,所述下料支架10的底部贯穿有下料口14,所述限位槽102内设有推动连杆13。

全文数据:

权利要求:

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