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切削工具 

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申请/专利权人:住友电工硬质合金株式会社

摘要:一种切削工具,包括:基材、以及设置在所述基材上的被覆层,所述被覆层包括由第一单元层和第二单元层构成的多层结构层、以及单独层,所述单独层含有立方晶型的TizAl1‑zN的晶粒,所述TizAl1‑zN中的Ti的原子比z为0.4以上且小于0.55,所述单独层的厚度的平均值为2.5nm以上10nm以下,所述多层结构层的厚度的平均值为40nm以上95nm以下,在由1层所述多层结构层和1层所述单独层构成的重复单元中,所述重复单元的厚度的平均值为50nm以上100nm以下,所述重复单元的厚度的最大值为90nm以上110nm以下,所述重复单元的厚度的最小值为40nm以上60nm以下。

主权项:1.一种切削工具,包括:基材、以及设置在所述基材上的被覆层,所述被覆层包括由第一单元层和第二单元层构成的多层结构层、以及单独层,所述第一单元层与所述第二单元层各自交替层叠,所述多层结构层与所述单独层各自交替层叠2层以上,所述第一单元层含有立方晶型的AlxTi1-xN的晶粒,所述第二单元层含有立方晶型的AlyTi1-yN的晶粒,所述单独层含有立方晶型的TizAl1-zN的晶粒,所述AlxTi1-xN中的Al的原子比x为0.8以上0.95以下,所述AlyTi1-yN中的Al的原子比y为0.7以上且小于0.8,所述TizAl1-zN中的Ti的原子比z为0.4以上且小于0.55,所述第一单元层的厚度的平均值为2.5nm以上5nm以下,所述第二单元层的厚度的平均值为2.5nm以上5nm以下,所述多层结构层的厚度的平均值为40nm以上95nm以下,所述单独层的厚度的平均值为2.5nm以上10nm以下,在由1层所述多层结构层和1层所述单独层构成的重复单元中,所述重复单元的厚度的平均值为50nm以上100nm以下,所述重复单元的厚度的最大值为90nm以上110nm以下,所述重复单元的厚度的最小值为40nm以上60nm以下。

全文数据:

权利要求:

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