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申请/专利权人：北京环境特性研究所
摘要：本发明提供了一种RCS测量背景电平抑制方法及装置，应用于包括一维阵列天线的RCS测量系统中，该方法包括：获取未设置待测目标时场地背景的背景电平数据；其中，场地背景与待测目标所处的待架设区域位于同一距离波门；根据背景电平数据，确定待抑制背景电平区域；基于待抑制背景电平区域所包含的方位角、预设目标低副瓣方向图和RCS测量系统，建立待抑制背景电平区域的加权系数求解模型；利用加权系数求解模型，计算得到优化加权系数；根据优化加权系数，得到待抑制背景电平区域的低副瓣方向图。本方案能够从指定角度上抑制与目标处于同一距离波门的地物背景杂波，进而提高低RCS目标的测量精度。
主权项：1.一种RCS测量背景电平抑制方法，其特征在于，应用于包括一维阵列天线的RCS测量系统中，所述方法包括：获取未设置待测目标时场地背景的背景电平数据；其中，所述场地背景与所述待测目标所处的待架设区域位于同一距离波门；根据所述背景电平数据，确定待抑制背景电平区域；基于所述待抑制背景电平区域所包含的方位角、预设目标低副瓣方向图和所述RCS测量系统，建立所述待抑制背景电平区域的加权系数求解模型；利用所述加权系数求解模型，计算得到优化加权系数；根据所述优化加权系数，得到所述待抑制背景电平区域的低副瓣方向图。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京环境特性研究所 一种RCS测量背景电平抑制方法及装置
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