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申请/专利权人：梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司;梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司;梅特勒-托利多国际贸易(上海)有限公司
摘要：本发明提供了一种计数校验装置，计数系统和计数方法，其中，所述计数校验装置包括：处理单元，用于对被计数对象的图像进行图像识别计数；计算单元，用于根据被计数对象的称重总重和预存储的质量分布信息，称重计数；判断单元，用于根据所述质量分布信息，判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内；如果是，判定所述图像识别计数个数为被计数对象的计数个数，否则所述处理单元重新进行图像识别计数。通过所述计数校验装置，计数系统和计数方法，可以提高物品计数的准确性。
主权项：1.一种计数校验装置，其特征在于，包括：处理单元，用于对被计数对象的图像进行图像识别计数；计算单元，用于根据被计数对象的称重总重和预存储的质量分布信息，称重计数；判断单元，用于根据所述质量分布信息，判断图像识别计数个数是否在称重计数个数的计数误差范围内；如果是，判定所述图像识别计数个数为被计数对象的计数个数，否则所述处理单元重新进行图像识别计数；所述质量分布信息是根据从生产过程中收集来的产品的重量数据分布情况而形成的统计数据信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 梅特勒-托利多(常州)测量技术有限公司 梅特勒-托利多(常州)精密仪器有限公司 梅特勒-托利多国际贸易(上海)有限公司 计数校验装置，计数系统和方法
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