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申请/专利权人：中科慧远人工智能(烟台)有限公司
摘要：本公开涉及一种裂纹尺寸测量系统、方法。对于加工过程输送的被测物体，在不同方位的光源照射时采集被测物体的表面图像，并通过卷积处理提高了裂纹特征和非裂纹特征的区别，然后从裂纹特征和非裂纹特征明显的第一特征图像中精准的识别出裂纹，并根据裂纹上像素点的坐标数据，计量或者测量裂纹的尺寸，帮助用户掌握加工过程中的被测物体的裂纹是否符合规范，进一步辅助用户基于裂纹缺陷和裂纹缺陷的详细信息优化加工工序，降低了将不符合规范的物体流入市场使用的可能性，同时，提高了物体的生产效率。
主权项：1.一种裂纹尺寸测量系统，其特征在于，包括：输送装置，用于在控制装置的控制下，将被测物体从初始位置输送至目标位置；第一光源，用于在所述控制装置的控制下照亮所述被测物体的一侧，其中，所述第一光源位于图像采集装置的第一方位；所述图像采集装置，用于在所述控制装置的控制下，在所述目标位置采集所述被测物体的第一表面图像；测量装置，包括：第一获取模块，用于获取所述被测物体的第一表面图像；第二获取模块，用于沿着第一方向，对所述第一表面图像中的像素点进行第一卷积处理，获取所述第一表面图像中像素点的第一卷积特征，沿着所述第一方向的反方向、对所述第一表面图像中的像素点进行第二卷积处理，获取所述第一表面图像中像素点的第二卷积特征、对所述第一表面图像中同一像素点的第一卷积特征和第二卷积特征进行加权求和，得到所述第一表面图像中像素点的目标特征，其中，第一特征图像中裂纹特征和非裂纹特征的特征差大于所述第一表面图像中裂纹特征和非裂纹特征的特征差，所述目标特征包含裂纹特征和非裂纹特征，包含特征差明显的所述裂纹特征和所述非裂纹特征的图像为所述第一特征图像；第三获取模块，用于根据所述第一特征图像中像素点的像素值和坐标数据，从所述第一特征图像中获取裂纹；测量模块，用于基于所述裂纹上像素点的坐标数据，对所述裂纹进行几何参数计算，测量所述裂纹的尺寸。
全文数据：
权利要求：
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