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申请/专利权人：湖南进芯电子科技有限公司
摘要：本发明涉及一种MCU芯片功能测试集成复用系统及方法，以FPGA为载体，接口复用互连为核心实现引脚根据配置互连复用；构建通信接口实现与主控芯片通信；构建信息处理模块将接收到的信息进行解码或者将返回的信息编码；构建系统控制逻辑单元根据解码的指令对控制寄存器写入读取数据或对控制单元控制动作；构建数据返回模块根据接收到的指令将需要返回的数据筛选打包，构建接口实现引脚与系统的连接。最终实现一个可接收控制指令，可根据指令将接口上的信号线相对应的复用连接，或返回相对应控制寄存器的值，实现外部接口的互相连接与复用，以此实现被测芯片端口与信号监测或者激励信号端口连接来达到芯片测试的目的。
主权项：1.一种MCU芯片功能测试集成复用系统，其特征在于，包括寄存器组，包括系统模块控制寄存器组、复用互连模块控制寄存器组、扩展模块控制寄存器组、接口方向控制寄存器组，用于控制相对应子模块的动作或线路的连接；接口复用互连模块，集成互连接口模块，并根据所述寄存器组的值实现所述接口模块中各接口之间的复用互连控制；控制模块，通过系统控制逻辑单元依据指令写数据至所述统模块控制寄存器组，并借助所述统模块控制寄存器组组合控制子单元控制模块的逻辑输出；子单元控制模块，接收所述控制模块及系统模块控制寄存器组控制信号，产生对连接的子单元寄存器组的控制信号，进而控制所述寄存器组相对应子模块的动作或线路的连接。
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权利要求：
百度查询： 湖南进芯电子科技有限公司 MCU芯片功能测试集成复用系统及方法
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