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申请/专利权人：钛玛科(北京)工业科技有限公司
摘要：本发明提供一种光电传感器的极片材料宽度检测方法，属于材料检测技术领域，包括：步骤1：获取带有滤光片的透明板的光电传感器的原始图像，对所述原始图像进行降噪；步骤2：对降噪后的图像进行边缘检测，获取边缘像素点的图像灰度值，并将所述图像灰度值发送到fpga芯片进行信息处理；步骤3：基于处理结果且根据深度优先搜索算法对光电传感器的极片材料的多个边进行跟踪；步骤4：根据跟踪结果选取多个平行边且没有重叠的位置的像素差，得到材料的宽度信息。解决了不同强度的环境光会影响图像的采集效果，将降低图像处理的稳定性，且数据在不同器件发送将大大降低数据的处理速度，降低传感器的性能的问题。
主权项：1.一种光电传感器的极片材料宽度检测方法，其特征在于，包括：步骤1：获取带有滤光片的透明板的光电传感器的原始图像，对所述原始图像进行降噪；步骤2：对降噪后的图像进行边缘检测，获取边缘像素点的图像灰度值，并将所述图像灰度值发送到fpga芯片进行信息处理；步骤3：基于处理结果且根据深度优先搜索算法对光电传感器的极片材料的多个边进行跟踪；步骤4：根据跟踪结果选取多个平行边且没有重叠的位置的像素差，得到材料的宽度信息。
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权利要求：
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