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申请/专利权人：京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
摘要：本发明提供一种绑定结构的阻抗测试方法、装置、电子设备和可读存储介质。绑定结构的阻抗测试方法包括：在触控模组通过第一电源信号端供电的情况下，通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值；通过第二采集电路采集所述目标耦合电容的第二电容值；根据所述第一电容值和所述第二电容值的差异确定所述第一电源信号端提供的第一电源信号的变化量；根据所述第一电源信号的变化量计算所述绑定结构的阻抗。本发明实施例通过采集目标耦合电容的电容值，并根据不同供电状态下，其电容值差异，确定导致该测量值差异的电压变化量，并进一步确定该压降对应的阻抗，能够实现对绑定结构阻抗的测量，提高了对于绑定结构阻抗测量的便利程度。
主权项：1.一种绑定结构的阻抗测试方法，应用于触控面板，其特征在于，包括：在触控模组通过第一电源信号端供电的情况下，通过第一采集电路采集目标耦合电容的第一电容值，其中，所述第一电源信号端和所述第一采集电路位于所述触控面板的第一侧，所述第一采集电路的供电电路未包括所述触控面板的绑定结构；在触控模组通过所述第一电源信号端供电的情况下，通过第二采集电路采集所述目标耦合电容的第二电容值，其中，所述第二采集电路位于所述触控面板与所述第一侧相对的第二侧，所述第二采集电路的供电电路包括所述触控面板的绑定结构；根据所述第一电容值和所述第二电容值的差异确定所述第一电源信号端提供的第一电源信号的变化量；根据所述第一电源信号的变化量计算所述绑定结构的阻抗。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 京东方科技集团股份有限公司 北京京东方显示技术有限公司 绑定结构的阻抗测试方法、装置、电子设备和可读存储介质
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