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芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质 

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申请/专利权人:昆仑芯(北京)科技有限公司

摘要:本公开提供了一种芯片验证方法、装置、设备、存储介质以及程序产品,涉及计算机技术领域,尤其涉及芯片技术领域。具体实现方案为:根据用于芯片验证的验证信息,生成多个待验证任务,多个待验证任务的每个待验证任务各自包括指令以及与指令相关的验证数据,多个待验证任务对应的取指地址相同;基于取指地址,获取多个待验证任务的多个指令和多个验证数据;以及利用多个指令和多个验证数据执行多个待验证任务,得到验证结果。

主权项:1.一种芯片验证方法,包括:根据用于芯片验证的验证信息,生成多个待验证任务,所述多个待验证任务的每个待验证任务各自包括指令以及与所述指令相关的验证数据,所述多个待验证任务对应的取指地址相同;基于所述取指地址,获取所述多个待验证任务的多个指令和多个验证数据;以及利用所述多个指令和多个验证数据执行所述多个待验证任务,得到验证结果。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 昆仑芯(北京)科技有限公司 芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质

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