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申请/专利权人：络明芯微电子(厦门)有限公司

摘要：一种临近检测方法及临近检测键盘，其中临近检测方法用以检测使用者是否临近临近检测键盘，临近检测键盘包含多个电极及至少一接地元件，接地元件与所述多个电极对应设置，临近检测方法包含等效电容检测步骤及临近事件判定步骤。等效电容检测步骤是检测各电极的等效电容，其中各电极与使用者产生临近电容，各电极与对应的接地元件产生寄生电容，各电极的等效电容是依据对应的临近电容及对应的寄生电容而定义。临近事件判定步骤是比较电极中至少一者的等效电容与对应的电容阈值，以判定是否存在临近事件，其中电极分别对应预先设定的电容阈值。借此，实现临近检测功能。

主权项：1.一种临近检测方法，其特征在于，用以检测一使用者是否临近一临近检测键盘，该临近检测键盘包含多个电极及至少一接地元件，该至少一接地元件与所述多个电极对应设置，该临近检测方法包含：一等效电容检测步骤，检测各该电极的一等效电容，其中各该电极与该使用者产生一临近电容，各该电极与对应的该接地元件产生一寄生电容，各该电极的该等效电容是依据对应的该临近电容及对应的该寄生电容而定义；所述多个电极依据预先设定的一手势事件排列并分别对应多个编号，所述多个编号为连续整数，该临近电容、该寄生电容及该等效电容皆为时间相关并于多个检测时间点进行检测，所述多个检测时间点具有预先设定的一时间间隔；一电极状态值判定步骤，判定所述多个电极中是否存在至少一电极于一该检测时间点处于一第一状态值，其中所述多个电极分别对应预先设定的多个电容阈值，各该电极于各该检测时间点处于一状态值，该状态值为该第一状态值或一第二状态值，当所述多个电极中一者的该等效电容大于对应的该电容阈值则判定处于该第一状态值，当所述多个电极中一者的该等效电容小于或等于对应的该电容阈值则判定处于该第二状态值；一临近事件判定步骤，当所述多个电极中存在该至少一电极于一该检测时间点处于该第一状态值时，选取该至少一电极中对应一最大编号的一该电极，该最大编号为该至少一电极对应的编号中最大者，判定对应该最大编号的往前一编号的一该电极或是往后一编号的一该电极是否于往前一检测时间点处于该第一状态值，以判定是否存在一临近事件；以及一手势事件辨认步骤，依据一电极状态值时间序列辨认为该手势事件，其中当对应该最大编号的往前一编号的一该电极于往前一检测时间点处于该第一状态值时，该电极状态值时间序列为对应该最大编号的往前多个连续编号的所述多个电极分别于往前多个连续检测时间点的所述状态值，当对应该最大编号的往后一编号的一该电极于往前一检测时间点处于该第一状态值时，该电极状态值时间序列为对应该最大编号的往后多个连续编号的所述多个电极分别于往前多个连续检测时间点的所述状态值。

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