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申请/专利权人：杭州长川科技股份有限公司
摘要：本申请实施例公开了一种设备自检方法、系统、设备、介质、产品，其中，方法包括：应用于芯片测试设备，该芯片测试设备包括电气柜组件和测试头，该方法包括：控制第一器件组上电后进行自检，以及控制对该电气柜组件的上电环境和该测试头的上电环境进行检测，该第一器件组包括：该电气柜组件中的器件，以及该测试头中符合预设第一上电条件的器件；响应于该第一器件组通过自检，且该电气柜组件的上电环境和该测试头的上电环境均通过检测，控制第二器件组上电后进行自检，得到该第二器件组是否通过自检的结果，该第二器件组包括：该测试头中符合预设第二上电条件的器件。
主权项：1.一种设备自检方法，其特征在于，应用于芯片测试设备，所述芯片测试设备包括电气柜组件和测试头，所述方法包括：控制第一器件组上电后进行自检，以及控制对所述电气柜组件的上电环境和所述测试头的上电环境进行检测，所述第一器件组包括：所述电气柜组件中的器件，以及所述测试头中符合预设第一上电条件的器件；响应于所述第一器件组通过自检，且所述电气柜组件的上电环境和所述测试头的上电环境均通过检测，控制第二器件组上电后进行自检，得到所述第二器件组是否通过自检的结果，所述第二器件组包括：所述测试头中符合预设第二上电条件的器件。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州长川科技股份有限公司 设备自检方法、系统、设备、介质、产品
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