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芯片测试夹具、芯片测试系统 

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申请/专利权人:宁德时代新能源科技股份有限公司

摘要:本申请涉及芯片测试夹具、芯片测试系统,芯片测试夹具包括:底座,底座包括引脚槽、承载台、第一连接部,引脚槽配置为放置待测芯片的引脚,承载台设置在各个引脚槽之间,承载台配置为放置待测芯片,第一连接部设置在引脚槽的表面;第二连接部与第一连接部连接,待测芯片通过第二连接部与测试装置连接;引脚槽至少包括多个第一引脚槽和多个第二引脚槽,第一引脚槽在底座设置有所述承载台的表面的垂直投影的面积大于第二引脚槽在底座设置有所述承载台的表面的垂直投影的面积。通过设置可以实现对至少两种不同引脚尺寸的芯片进行安装以实现通过一个芯片测试夹具实现对不同引脚尺寸的芯片的测试,提高了芯片的测试效率,降低了芯片的测试成本。

主权项:1.一种芯片测试夹具,其特征在于,包括:底座,所述底座包括引脚槽、承载台、第一连接部,所述引脚槽配置为放置待测芯片的引脚,所述承载台设置在各个所述引脚槽之间,所述承载台配置为放置所述待测芯片,所述第一连接部设置在所述引脚槽的表面;第二连接部,与所述第一连接部连接,所述待测芯片通过所述第二连接部与测试装置连接;所述引脚槽至少包括多个第一引脚槽和多个第二引脚槽,所述第一引脚槽在所述底座设置有所述承载台的表面的垂直投影的面积大于所述第二引脚槽在所述底座设置有所述承载台的表面的垂直投影的面积。

全文数据:

权利要求:

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