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一种提高ZnO压敏电阻中富Bi相含量的方法 

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申请/专利权人:西安建筑科技大学

摘要:本发明属于压敏材料技术领域,具体的说是一种提高ZnO压敏电阻中富Bi相含量的方法,该方法具体步骤如下:S1:生坯成型:将ZnO陶瓷粉末压制成型、预烧,得到ZnO压敏陶瓷生坯;S2:闪烧:闪烧炉温达到800~900℃后,通过预设限制电流为75mAmm2,在样品两端分别施加200~800Vcm电场闪烧88~90s后关闭电场,得到ZnO压敏电阻;S3:富Bi相含量测试:EDS面扫描测试样品断面处Bi元素含量,本发明通过提高电场强度使得闪烧制备出的ZnO压敏电阻晶界处富Bi相含量增大,使其相比于传统烧结制备样品烧结时间缩短了近80倍,富Bi相提高了3倍,从而提高了ZnO压敏电阻的非线性系数α。

主权项:1.一种提高ZnO压敏电阻中富Bi相含量的方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:S1、生坯成型:将ZnO陶瓷粉末压制成型、预烧;S2、闪烧:闪烧炉温达到800~900℃后,通过预设限制电流为70~80mAmm2,在样品两端分别施加200~800Vcm电场闪烧90s后关闭电场,得到ZnO压敏电阻;S3、富Bi相含量测试:EDS面扫描测试样品断面处Bi元素含量。

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权利要求:

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