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申请/专利权人：湖南智焜能源科技有限公司

摘要：本发明提供一种基于智能量测开关的FCT测试方法、系统和介质，所述方法包括：由参数随机生成单元随机生成用于本次FCT测试的模拟参数；根据生成的本次FCT测试的模拟参数配置对应的模拟测试电路；将多个待测智能量测开关分别并联置入所述模拟测试电路中，并进行上电测试；通过数据采集单元分别采集获取多个待测智能量测开关的实测FCT信号数据；基于多个待测智能量测开关的实测FCT信号数据，并通过预设的FCT评测算法进行处理，得到每个待测智能量测开关的FCT评测结果。本发明能够有效避免传统因为固化的测试电路自身出现问题造成智能量测开关的FCT测试不准的问题。

主权项：1.一种基于智能量测开关的FCT测试方法，其特征在于，所述方法包括：由参数随机生成单元随机生成用于本次FCT测试的模拟参数；根据生成的本次FCT测试的模拟参数配置对应的模拟测试电路；将多个待测智能量测开关分别并联置入所述模拟测试电路中，并进行上电测试；通过数据采集单元分别采集获取多个待测智能量测开关的实测FCT信号数据；基于多个待测智能量测开关的实测FCT信号数据，并通过预设的FCT评测算法进行处理，得到每个待测智能量测开关的FCT评测结果；通过预设的FCT评测算法进行处理，得到每个待测智能量测开关的FCT评测结果，具体包括：构建FCT数据预测模型，并通过样本数据对FCT数据预测模型进行训练以优化模型参数；预设多个待测智能量测开关的属性相同，获取待测智能量测开关的属性数据；基于本次FCT测试的模拟参数，以及待测智能量测开关的属性数据预测得到待测智能量测开关的预测FCT信号数据；将每个待测智能量测开关的实测FCT信号数据分别与预测得到待测智能量测开关的预测FCT信号数据进行比对分析，并通过预设的处理算法计算得到每个待测智能量测开关的FCT评测结果；通过预设的处理算法计算得到每个待测智能量测开关的FCT评测结果，具体包括：预设实测FCT信号数据包括多项实测性能数据，预测FCT信号数据包括多项预测性能数据，多项实测性能数据与多项预测性能数据一一对应；将每个待测智能量测开关的每一项实测性能数据分别与预测FCT信号数据中的对应预测性能数据作差计算，得到基于每个待测智能量测开关的每一项性能数据偏差量；将每个待测智能量测开关的每一项性能数据偏差量与其他待测智能量测开关的对应性能数据偏差量进行逐一比对，如果前者大于后者，则将前者待测智能量测开关的对应性能数据标记为不良性能；待每个待测智能量测开关的每项性能数据偏差量均完成与其他待测智能量测开关的对应性能数据偏差量一一比对后，统计每个待测智能量测开关的每项性能数据被标记为不良性能的总次数；预设每项性能数据对待测智能量测开关的整体性能的影响权重各不相同，获取各项性能数据的影响权重；基于每个待测智能量测开关，将各项性能数据被标记为不良性能的总次数乘以对应的影响权重，得到权重不良值；基于每个待测智能量测开关，将各个性能数据的权重不良值进行累加，得到整体权重不良值；分别判断每个待测智能量测开关的整体权重不良值是否大于第一预设阈值，如果是，则认定所述待测智能量测开关的FCT评测结果为不合格，如果否，则认定所述待测智能量测开关的FCT评测结果为合格；在基于本次FCT测试的模拟参数，以及待测智能量测开关的属性数据预测得到待测智能量测开关的预测FCT信号数据之后，所述方法还包括：获取多个历史测试数据，每个历史测试数据包括历史智能量测开关的多个历史属性数据，历史模拟参数以及历史实测FCT信号数据；对每个历史测试数据中的历史智能量测开关的多个历史属性数据进行特征运算，得到第一属性特征；基于待测智能量测开关的多个属性数据进行特征运算，得到第二属性特征；将待测智能量测开关的第二属性特征与每个历史智能量测开关的第一属性特征进行差异计算，并计算二者的差异值；判断差异值是否小于第二预设阈值，如果是，则将对应的历史测试数据加入修正数据池中，反之，则直接丢弃；直至待测智能量测开关的第二属性特征与所有历史智能量测开关的第一属性特征均完成差异比对；基于修正数据池中的每个历史智能量测开关的多个历史属性数据，历史模拟参数，并通过FCT数据预测模型进行预测得到每个历史智能量测开关的历史预测FCT信号数据；基于修正数据池中的每个历史测试数据，将每个历史智能量测开关的历史实测FCT信号数据与对应的历史预测FCT信号数据进行作差计算，得到每个历史智能量测开关的差值量；对修正数据池中的所有历史测试数据的差值量进行均值化计算，得到平均差值量；在预测得到待测智能量测开关的预测FCT信号数据的基础上，加上所述平均差值量，得到修正后的预测FCT信号数据。

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