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一种测量量子扰动的方法及电子设备 

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申请/专利权人:北京量子信息科学研究院;清华大学

摘要:本申请提供一种测量量子扰动的方法及电子设备,所述方法包括:确定多体物理系统的目标哈密顿量和初始哈密顿量;设置第一量子测量线路,使所述第一量子测量线路中的初态为所述初始哈密顿量的基态,并由所述基态经过一系列含时演化的幺正操作得到所述第一量子测量线路的末态,所述第一量子测量线路的末态为所述目标哈密顿量;计算出所述第一量子测量线路的变分优化参数,所述变分优化参数使得所述目标哈密顿量的能量平均值最小;设置第二量子测量线路,并在所述第二量子测量线路中使用所述变分优化参数。

主权项:1.一种测量量子扰动的方法,其特征在于,包括:确定多体物理系统的目标哈密顿量和初始哈密顿量;设置第一量子测量线路,使所述第一量子测量线路中的初态为所述初始哈密顿量的基态,并由所述基态经过一系列含时演化的幺正操作得到所述第一量子测量线路的末态,所述第一量子测量线路的末态为所述目标哈密顿量;计算出所述第一量子测量线路的变分优化参数,所述变分优化参数使得所述目标哈密顿量的能量平均值最小;设置第二量子测量线路,并在所述第二量子测量线路中使用所述变分优化参数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 北京量子信息科学研究院 清华大学 一种测量量子扰动的方法及电子设备

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