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申请/专利权人：株式会社石田
摘要：本发明涉及检查装置。X射线检查装置1具有：存储部21，存储多种图像处理算法；获取部22，获取通过使电磁波透射附有异物F的物品A得到的透射图像P11或者合成透射图像P13作为基准透射图像P1；评价部24，根据利用存储部21中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像P1进行处理得到的评价图像P3，评价各种图像处理算法对异物F的检测精度；以及设定部25，根据评价部24的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。
主权项：1.一种检查装置，针对通过使电磁波透射物品得到的透射图像，使用从多种图像处理算法中预先选择的图像处理算法进行图像处理，根据所述图像处理的结果来检查所述物品中是否包含异物，其特征在于，所述检查装置具有：存储部，存储由多种图像处理滤波器生成的多种所述图像处理算法；获取部，获取通过使电磁波透射附有异物的所述物品得到的透射图像或者合成透射图像作为基准透射图像，所述合成透射图像是通过对使电磁波透射所述物品得到的透射图像虚拟地合成所述异物而生成的；评价部，根据利用所述存储部中存储的多种所述图像处理算法分别对所述基准透射图像进行处理得到的评价图像，评价各种所述图像处理算法对所述异物的检测精度；以及设定部，根据所述评价部的评价将所述图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为所述预先选择的图像处理算法，所述获取部获取：第一变化量，表示所述异物透射图像中与所述异物对应的部分相对于与所述异物的周围的背景对应的部分的亮度的变化；以及第二变化量，表示在通过使电磁波透射含有所述异物的所述物品得到的透射图像中，与所述异物对应的部分相对于与所述物品对应的部分的亮度的变化，所述获取部根据所述第一变化量和所述第二变化量来校正构成所述合成透射图像的各个像素的亮度，所述评价部根据所述评价图像中的、与所述异物对应的部分的平均亮度、与所述异物对应的部分的最小亮度、以及与所述异物以外的所述物品对应的部分的最大亮度来评价所述检测精度。
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