买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
申请/专利权人:中国科学院国家空间科学中心
摘要:本发明涉及天线位置的测量技术,特别涉及一种基于RTK技术定位测量综合孔径阵列天线结构中心的方法及系统。方法包括:遍历待测综合孔径阵列天线的每个振子天线,分别进行以下步骤:1基于RTK技术测量得到对应的该振子天线所有可测的地脚螺栓位置,得到测量点原始坐标;2对于每个振子天线,以任一测量点为原点,计算其他测量点的相对值,确定圆心的初始计算范围,重复若干轮次,结合天线结构安装底盘钢模板设计图的理想半径,基于计算的均方根和平均距离,进行偏差点的剔除;确定该阵子天线在RTK设定坐标系中的天线结构中心位置;3通过平移,对天线结构中心位置进行坐标转换,得到每个振子天线结构中心位置的站心坐标。
主权项:1.一种基于RTK技术定位测量综合孔径阵列天线结构中心的方法,包括:遍历待测综合孔径阵列天线的每个振子天线,分别进行以下步骤:步骤1基于RTK技术测量得到对应的该振子天线所有可测的地脚螺栓位置,得到测量点原始坐标;步骤2对于每个振子天线,以任一测量点为原点,计算其他测量点的相对值,确定圆心的初始计算范围,重复若干轮次,结合天线结构安装底盘钢模板设计图的理想半径,基于计算的均方根和平均距离,进行偏差点的剔除;确定该阵子天线在RTK设定坐标系中的天线结构中心位置;步骤3通过平移,对天线结构中心位置进行坐标转换,得到每个振子天线结构中心位置的站心坐标。
全文数据:
权利要求:
百度查询: 中国科学院国家空间科学中心 一种基于RTK技术定位测量综合孔径阵列天线结构中心的方法及系统
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。