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一种离子注入剂量均匀度测试装置 

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申请/专利权人:中国科学院微电子研究所

摘要:本发明涉及一种离子注入剂量均匀度测试装置,属于半导体离子注入技术领域,解决了现有技术中、通过通道切换实现多路采集不方便的问题。该装置包括:探测器、信号调理电路和上位机处理器;探测器,包括多组法拉第杯,每组法拉第杯包括若干个法拉第杯;信号调理电路,包括多路信号调理支路,每路信号调理支路对应一组法拉第杯,用于采集法拉第杯输出的电流信号,并对电流信号进行滤波放大调理后输出至上位机处理器;上位机处理器,根据接收的法拉第杯的电流信号得到离子注入剂量均匀度。实现了分组测量,多通道并行和时序采集相结合的采集方法,提高测量效率和更准确的测量准确度。

主权项:1.一种离子注入剂量均匀度测试装置,其特征在于,该装置包括:探测器、信号调理电路和上位机处理器;所述探测器,包括多组法拉第杯,每组法拉第杯包括若干个法拉第杯;所述信号调理电路,包括多路信号调理支路,每路信号调理支路对应一组法拉第杯,用于采集法拉第杯输出的电流信号,并对电流信号进行滤波放大调理后输出至上位机处理器;所述上位机处理器,根据接收的法拉第杯的电流信号得到离子注入剂量均匀度。

全文数据:

权利要求:

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