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申请/专利权人：韶关朗科半导体有限公司
摘要：本实用新型涉及一种BIT测试台，属于硬盘测试技术领域，测试架，所述测试架至少为两层放置结构，每层放置机构上放置有若干测试机；所述测试架安装有若干互相平行的悬挂条，每相邻两悬挂条之间预留有容待检测电子产品通过的间隙，且任一悬挂条用于搭载带测试产品所延伸的测试导线，将上下的检测模块之间通过悬挂条增加测试导线在水平方向上的悬挂距离，使得测试导线在竖直方向上的距离变短，从而若干的检测模块同时运行对产品进行功能测试时，避免各模块出现测试导线连接的电子产品出现堆叠接触的情况。
主权项：1.一种BIT测试台，其特征在于，包括测试架1，所述测试架1至少为两层放置结构，每层放置机构上放置有若干测试机；所述测试架1安装有若干互相平行的悬挂条4，每相邻两悬挂条之间预留有容待检测电子产品通过的间隙，且任一悬挂条4用于搭载带测试产品所延伸的测试导线3。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 韶关朗科半导体有限公司 一种BIT测试台
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