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一种用于测量光学元件透过率的设备 

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申请/专利权人:长春光客科技有限公司

摘要:本实用新型公开了一种用于测量光学元件透过率的设备,包括透过率设备本体,所述透过率设备本体内部的两侧均对称设置有滑槽,所述滑槽顶部内部滑动连接有滑块,所述滑块顶部固定连接有夹持块,所述滑块一侧固定连接有滑杆,所述滑杆一侧固定连接有限位板,所述滑杆外侧设置有弹簧,将所需测量透过率的样本放置测试孔的顶部,松开把手后,夹持块和滑块便在滑杆的复位作用下向样本进行移动,即时便可将样本进行夹持固定,夹持块在夹持样本的一端设有防滑垫,防滑垫可以增加夹持过程中稳定性,从而有效的避免样本在测量过程中因误触而导致透光的效率发生偏差。

主权项:1.一种用于测量光学元件透过率的设备,包括透过率设备本体1,其特征在于:所述透过率设备本体1内部的两侧均对称设置有滑槽6,所述滑槽6顶部内部滑动连接有滑块8,所述滑块8顶部固定连接有夹持块7,所述滑块8一侧固定连接有滑杆10,所述滑杆10一侧固定连接有限位板12,所述滑杆10外侧设置有弹簧11,所述滑杆10滑动连接于透过率设备本体1的内部,所述透过率设备本体1顶部一侧转动连接有转动手柄16,所述转动手柄16内部的上端设置有升降柱17,所述升降柱17一侧的上端固定连接有检测端18,所述转动手柄16内部一侧转动连接有转轴19,所述转轴19外侧的另一端固定连接有第一锥齿21,所述转动手柄16内部转动连接有螺杆22,所述螺杆22外侧的下端固定连接有第二锥齿23,所述螺杆22外侧的上端螺纹连接于升降柱17的内部。

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权利要求:

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