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申请/专利权人：上海师范大学
摘要：本发明涉及一种正入射式透射光相位信息表征光路系统及方法，该光路系统由光路a与光路b两部分光路组成，包括：激光器、起偏器、第一偏振分束器、第一反射镜、第一样品台、第二反射镜、第二样品台、第二偏振分束器、14波片、检偏器、衰减器、探测器。光束经过第一偏振分束器后分为光路a与光路b，汇聚与第二偏振分束器。本光路系统可以同时测量样品透射光的强度信息和相位信息，即可获取透射光谱的全方面信息，为超构材料、光学天线、等离激元阵列等人工微纳结构以及光学薄膜、自然材料等体系提供一种实用的光谱检测技术。
主权项：1.一种正入射式透射光相位信息表征光路系统，其特征在于，包括：光源发射器，用于发射光源；起偏器2，用于将所述光源发射器发射的光源形成偏振光；第一偏振分束器3，用于将所述偏振光分成两束光路：光路a与光路b；第一反射镜4，设于所述光路a中；第一样品台5，用于放置被测样品或标准样件；第二反射镜6，设于所述光路b中；第二样品台7，用于放置标准样件或被测样品；第二偏振分束器8，用于汇合所述被测样品及标准样件的透射光；及透射光检测单元，使携带样品信息的测试光和参考光发生相干干涉，通过探测光谱强度计算相位信息；所述光路a的光经过所述第一反射镜4后经过所述第一样品台5上的被测样品或标准样件进入第二偏振分束器8，所述光路b的光经过所述第二反射镜6后经过所述第二样品台7上的标准样件或被测样品进入第二偏振分束器8，汇合后的两束光同时出射经过所述透射光检测单元；所述透射光检测单元包括依次设置的14波片9、检偏器10、衰减器11和探测器12，汇合后的两束光同时出射经过所述透射光检测单元，依次经过所述14波片9及检偏器10，所述14波片9与检偏器10对光进行调制，之后再经过所述衰减器11，进入所述探测器12；所述光路a与光路b相互垂直。
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